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第一百七十八章闪存良品率攻坚战

书名:重生1999,我靠小说做空纳指 作者:火星卫士

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第一百七十八章闪存良品率攻坚战

李建明拿起报告,一行行扫过上面的测试数据,沉默不语。

这已经是他们团队熬的第七个通宵了。

从联盟订单敲定的那天起,他就带着闪存研发团队扎进了实验室。

一遍遍地调整制程参数,优化生产工艺。

这背后的压力,让他辗转难眠。

去年一整年,NOR闪存业务全靠集团补贴,亏了快3亿港币。

集团内部早就有了不同的声音。

要不是陈总力排众议,一直给资金、给资源支持,闪存业务早就被砍掉了。

现在好不容易有了出货的机会,要是成本降不下来,还是持续亏损。

他根本没法跟陈总交代。

更没法跟着他一起,打破日美韩在存储芯片领域的拢断。

“沉住气,越慌,心不静,技术就越难突破。”

李建明深吸一口气,压下心里的焦躁,抬头看向张诚,语气沉稳,没有丝毫责备:

“把最近十轮的测试数据,还有晶圆切片的电镜照片,全部调出来,我们一块一块找问题。

良率上不去,肯定是某个环节出了问题。

我们把每一道工序都拆解开,总能找到症结。”

就在这时,实验室的门被推开,王明德带着晶圆制造团队的内核工程师走了进来。

手里还拿着一叠厚厚的晶圆生产流程报表。

“李总,听说你们这边遇到瓶颈了?”

王明德笑着走了过来,把报表放在桌上:

“林总让我们过来支持。

晶圆制造的全流程数据我们都带来了。

从晶圆清洗、光刻、蚀刻、离子注入。

到最终的封装测试。

每一道工序的参数都在这里。”

看到王明德带着团队过来,李建明的眼睛瞬间亮了几分。

他是做闪存架构设计的,对芯片设计了如指掌。

可晶圆制造的全流程工艺,最专业的还是王明德和他的团队。

之前良率上不去,很大一部分原因,就是设计和制造环节没有完全打通。

“王总,太感谢了!我正想找你帮忙呢!”

李建明连忙起身,把测试报告递了过去:

“我们调整了无数次光刻参数。

可晶圆边缘的坏块率始终降不下来。

王明德接过报告,和身边的工艺总工程师一起,仔仔细细地看了一遍。

又翻了翻晶圆生产的全流程数据,很快就发现了问题所在。

“李总,你看这里。”王明德指着报表上的蚀刻工序参数:

“你们为了优化浮栅的电荷保持能力,把湿法蚀刻的时间延长了3秒,对吧?”

“对。”李建明立刻点头:

“延长蚀刻时间,浮栅的形貌更规整。

电荷保持能力更好,芯片的稳定性也能提升。”

“问题就出在这里。”王明德语气肯定:

“湿法蚀刻时间延长3秒,晶圆中心局域的蚀刻效果刚好达标。

可晶圆边缘局域,蚀刻液的流速更快。

蚀刻深度就超标了。

直接导致边缘局域的浮栅结构损坏,坏块率飙升。

一句话,点醒了梦中人。

李建明猛地拍了一下自己的额头,脸上露出了恍然大悟的神情。

他一直盯着芯片设计和光刻环节。

却忽略了蚀刻工艺的细微参数变化,对整片晶圆的均匀性影响。

“那我们立刻调整蚀刻时间,把参数改回来!”张诚立刻说道。

“别急。”王明德摆了摆手:

“改回原来的参数,蚀刻均匀性是好了,可浮栅的电荷保持能力就下降了。

芯片的使用寿命会受影响。

我们的方案是,调整蚀刻机的喷淋参数,降低晶圆边缘局域的蚀刻液流速。

同时把蚀刻时间拆成两段。

中间加一次晶圆旋转。

保证整片晶圆的蚀刻均匀性。

另外,晶圆清洗环节,我们也发现了问题。你们用的是

晶圆表面的微小颗粒,也是导致良率下降的原因。

进一步降低坏块率。”

王明德的方案,一针见血,既解决了蚀刻均匀性的问题。

又不影响芯片的性能,还补上了清洗环节的短板。

李建明看着王明德,心里满是感激,立刻拍板:

“就按王总的方案来。

我们现在就去车间,调整设备参数,立刻做一轮试生产!”

一群人立刻行动起来,凌晨四点的晶圆厂车间,依旧灯火通明。

王明德带着制造团队,调整蚀刻机的喷淋参数和晶圆旋转程序,优化清洗工艺。

李建明带着设计团队,同步微调浮栅的设计参数,配合工艺优化。

光刻团队的工程师,也同步调整了曝光剂量,配合蚀刻工艺的变化。

所有人都憋着一股劲,没有一个人喊累,没有一个人退缩。

早上八点,第一片经过工艺优化的晶圆,完成了全部生产工序,送到了测试实验室。

所有人都围在测试台旁,屏住呼吸,看着屏幕上的测试进度条一点点往前走。

“成了!我们成了!”

实验室里瞬间爆发出一阵欢呼,熬了好几个通宵的工程师们,激动地互相拥抱,有人甚至红了眼框。!

“再做一轮优化。

李建明的声音里,带着压抑不住的激动。

大手一挥,团队立刻又投入到了新一轮的微调中。

当天下午,经过第二轮工艺优化的晶圆,测试结果出来了。!

财务团队也同步算出了成本变化。

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